硬盤驗(yàn)證器是一款小巧實(shí)用的專業(yè)化硬盤檢驗(yàn)工具,功能強(qiáng)勁,可以幫助用戶輕松測(cè)試識(shí)別硬盤驅(qū)動(dòng)器的壞扇區(qū),界面美觀,便捷好用,支持查看自己的磁盤是否存在壞扇區(qū),讓您可以通過覆蓋它來清除所謂的壞扇區(qū)。
功能介紹
可以提供有關(guān)壞扇區(qū)的詳細(xì)信息,以便您可以嘗試修復(fù)它們。您的硬盤驅(qū)動(dòng)器是以塊為單位(扇區(qū))寫入數(shù)據(jù),在每次硬盤驅(qū)動(dòng)器更新扇區(qū)時(shí),它還將在更新扇區(qū)數(shù)據(jù)后立即存儲(chǔ)校驗(yàn)和。當(dāng)從硬盤驅(qū)動(dòng)器讀取扇區(qū)時(shí),扇區(qū)校驗(yàn)和應(yīng)與扇區(qū)數(shù)據(jù)匹配。
如果校驗(yàn)和不匹配,硬盤會(huì)在寫入操作期間識(shí)別為出現(xiàn)問題 – 該事件稱為壞扇區(qū)。在寫入操作或硬盤驅(qū)動(dòng)器故障期間,出現(xiàn)壞扇區(qū)的原因有很多,如電源故障等。
硬盤驗(yàn)證器為您提供了一種查看是否存在壞扇區(qū)的方法,因此您可以通過覆蓋它來清除所謂的壞扇區(qū)。
如果出現(xiàn)了因?yàn)殡娫垂收蠈?dǎo)致的壞扇區(qū),則“讀取 + 擦除損壞 + 讀取”測(cè)試將是清除壞扇區(qū)的最快方法。
如果因?yàn)轵?qū)動(dòng)器出現(xiàn)問題導(dǎo)致的壞扇區(qū),則應(yīng)在備份數(shù)據(jù)后選擇“寫入 + 驗(yàn)證”測(cè)試。注意,此測(cè)試將清除磁盤上的所有數(shù)據(jù),請(qǐng)慎重使用。
所有測(cè)試都會(huì)形成日志,您可復(fù)制后供日后使用。
硬盤驗(yàn)證器提供以下四種可供選擇的測(cè)試:
– 讀取:將掃描整個(gè)硬盤驅(qū)動(dòng)器表面以查找壞扇區(qū)。
– 讀取 + 擦除損壞 + 讀取:將掃描整個(gè)硬盤驅(qū)動(dòng)器表面以查找壞扇區(qū),如果發(fā)現(xiàn)壞扇區(qū),將覆蓋它們,并再次讀取以確保寫入成功。
– 讀取 + 寫入 + 驗(yàn)證 + 恢復(fù):程序?qū)⑾虼疟P寫入測(cè)試模式,驗(yàn)證模式是否已成功寫入,然后還原原始數(shù)據(jù)。
– 寫入 + 驗(yàn)證:程序?qū)⑾虼疟P寫入測(cè)試模式并驗(yàn)證模式是否已成功寫入(慎用,原始數(shù)據(jù)將會(huì)丟失)。
軟件特色
易于使用的界面
所有信息都顯示在應(yīng)用程序的主窗口中,共分為四大功能,只需選擇功能,并單擊開始即可;
體積小
硬盤驗(yàn)證器體積不到100k,無需安裝,不占空間。
測(cè)試日志
所有測(cè)試都會(huì)形成日志,方便您復(fù)制供日后使用。